前反射紅外溫度計(jì)技術(shù)說明了紅外溫度計(jì)在工程溫度測量中的重要作用。它具有響應(yīng)速度快、分辨率高的優(yōu)點(diǎn)。對于一些旋轉(zhuǎn)物體、高速運(yùn)動(dòng)物體或腐蝕性強(qiáng)的物體，當(dāng)接觸測溫不可能時(shí)，輻射測溫被廣泛應(yīng)用。大多數(shù)輻射溫度計(jì)只能測量亮度溫度、輻射溫度或色溫。如果你想得到被測物體的真實(shí)溫度，你還必須知道物體的發(fā)射率。然而，物體的發(fā)射率與許多因素有關(guān)，如物質(zhì)類型、溫度、波長等。，特別是底層狀態(tài)(氧化程度、腐蝕程度等)。)的物體表面。這給校正發(fā)射率的影響帶來了很大困難。
紅外溫度計(jì)由光學(xué)系統(tǒng)、光電探測器、信號放大器、信號處理、顯示和輸出等組成。光學(xué)系統(tǒng)收集目標(biāo)視場中的紅外輻射能量，視場的大小由溫度計(jì)的光學(xué)部分及其位置決定。紅外能量聚焦在光電探測器上，并轉(zhuǎn)換成相應(yīng)的電信號。信號經(jīng)過放大器和信號處理電路后，轉(zhuǎn)換成被測目標(biāo)的溫度值，并根據(jù)儀器內(nèi)部的算法和目標(biāo)發(fā)射率進(jìn)行校正。
輻射溫度測量中輻射率的影響能否基本消除？或者物體的真實(shí)溫度可以通過輻射測溫法直接測量，而不需要確切知道發(fā)射率值？許多學(xué)者很久以前就注意到了這個(gè)問題。例如，半球內(nèi)表面上的鍍金反射器扣在待測物體的表面上，以提高待測表面的有效發(fā)射率，使得設(shè)置在半球反射器上方的探測器接收黑體附近的輻射，從而可以測量物體的真實(shí)溫度。

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